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Propagation of Surface Plasmon Polaritons in Thin Films of Topological Insulators

机译:表面等离子体极化子在拓扑薄膜中的传播   绝缘子

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摘要

The propagation of surface plasmon polaritons in thin films of topologicalinsulators is studied. The materials considered are second generation threedimensional topological insulators Bi$_2$Se$_3$, Bi$_2$Te$_3$, andSb$_2$Te$_3$. Dispersion relations and propagation lengths are estimatednumerically, taking into account the variation of bulk dielectric functions oftopological insulators as well as substrate using the Drude-Lorentz model. Keyfactors affecting propagation length are identified and ways to modify thedispersion relations are suggested. The explanation of the apparent discrepancybetween the experimental data for Bi$_2$Se$_3$ and theory is proposed.
机译:研究了表面绝缘子极化子在拓扑绝缘体薄膜中的传播。考虑的材料是第二代三维拓扑绝缘子Bi $ _2 $ Se $ _3 $,Bi $ _2 $ Te $ _3 $和Sb $ _2 $ Te $ _3 $。考虑到拓扑绝缘子以及衬底的整体介电函数的变化,使用Drude-Lorentz模型对色散关系和传播长度进行了数值估算。确定了影响传播长度的关键因素,并提出了修改色散关系的方法。提出了Bi $ _2 $ Se $ _3 $实验数据与理论值之间明显差异的解释。

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